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蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡

蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡

簡要描述:

蔡司 EVO MA鎢燈絲掃(sao)描電(dian)子顯微鏡(jing)將鎢燈絲掃(sao)描電(dian)鏡(jing)的(de)(de)發展帶入了全新的(de)(de)時(shi)代,超大樣(yang)品(pin)室為各類繁雜的(de)(de)樣(yang)品(pin)以(yi)及繁重(zhong)的(de)(de)工作提供了輕松的(de)(de)解決方案,自(zi)動(dong)化的(de)(de)5軸(zhou)樣(yang)品(pin)臺和大的(de)(de)X、Y、Z軸(zhou)跟蹤掃(sao)描以(yi)及可變壓(ya)力的(de)(de)檢測(ce)模式使得(de)EVO MA 15能夠廣泛適用于各類樣(yang)品(pin)的(de)(de)檢測(ce)工作,EVO MA 15作為一款研究級掃(sao)描電(dian)鏡(jing)能夠為您提供Z*的(de)(de)視覺圖像和Z廣泛的(de)(de)應用領域。

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蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發展帶入了全新的時代,超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案,自動化的5軸樣品臺和大的X、Y、Z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢測模式使得EVO MA 15能夠廣泛適用于各類樣品的檢測工作,EVO MA 15作為一款研究級掃描電鏡能夠為您提供zui*的視覺圖像和zui廣泛的應用領域。
蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡【技術參數】
分辨率:3.0nm@ 30KV(SE and W)  4.0nm@ 30KV(VP with BSD) 
加速電壓:0.2—30KV 
放大倍數:5—1000000x 
探針電流:0.5PA-5μA 
X-射線分析工作距離:8.5mm     35度接收角 
壓力范圍:10—400Pa (LS15:環掃模式10-3000Pa)
工作室:365mm(φ)×275mm(h) 
5軸優中心自動樣品臺:X=125mm  Y=125mm  Z=50mm  T=-10°- 90°°R=360° 
zui大試樣高度:145mm,zui大試樣直徑:250mm 
系統控制:基于Windows 7 的SmartSEM操作系統
【主要特點】
能在可變壓力下操作 
先進X射線和EBSD分析 
可移動大平臺 
快抽真空 
未來的保證,可升級在高壓和水蒸氣下成像和分析 
高亮度LaB6資源選擇 
光線套選擇
掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金(jin)屬材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)(鋼鐵、冶金(jin)、有色、機械加工)和(he)非金(jin)屬材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)(化學、化工、石油、地質礦物(wu)學、橡膠、紡(fang)織、水泥、玻璃纖維)等(deng)檢(jian)驗和(he)研究(jiu)。在材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)科學研究(jiu)、金(jin)屬材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)、陶瓷材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)、半導(dao)體(ti)材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)、化學材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)等(deng)領域進行材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)的(de)(de)微觀(guan)形(xing)貌、組織、成(cheng)分(fen)(fen)分(fen)(fen)析(xi)(xi),各種材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)的(de)(de)形(xing)貌組織觀(guan)察,材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)斷口分(fen)(fen)析(xi)(xi)和(he)失(shi)效分(fen)(fen)析(xi)(xi),材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)(liao)實(shi)時微區成(cheng)分(fen)(fen)分(fen)(fen)析(xi)(xi),元素定量(liang)、定性成(cheng)分(fen)(fen)分(fen)(fen)析(xi)(xi),快速的(de)(de)多元素面掃描和(he)線掃描分(fen)(fen)布測量(liang),晶(jing)(jing)體(ti)、晶(jing)(jing)粒的(de)(de)相(xiang)鑒定,晶(jing)(jing)粒尺寸、形(xing)狀(zhuang)分(fen)(fen)析(xi)(xi),晶(jing)(jing)體(ti)、晶(jing)(jing)粒取向測量(liang)。

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